Analizadores Portátiles de Muestras Minerales y Metales por el Método de Fluorescencia de Rayos X
S1 TITAN Portátil XRF para análisis de muestras de minerales y metales in situ
Analizador Bruker S1 TITAN portátil para uso en la explotación minera. Herramienta rápida y exacta que puede hacer directamente el análisis geoquímico in situ en la veta la mina, extractos de perforación o muestras preparadas. El análisis en tiempo real in situ con el S1 TITAN incrementará la productividad reduciendo tiempos de vuelta con los resultados de días a segundos comparándolo con el análisis del laboratorio. Con el S1 TITAN se definen rápidamente los límites de veta mineral y se identifican áreas de beneficio con más alto potencial. La clave, es el detector de impulso de silicio de Bruker X-Flash (SDD), que ofrece una alta tasa de conteo y resolución superior a la tecnología al-
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ternativa del detector SiPIN. Porque tarda solamente pocos segundos en hacer el análisis típico en la cantera de explotación minera, ya que es cinco veces más rápido que las anteriores generaciones. La resolución mejorada y la alta tasa de conteo significan límites de detección más bajos para todos los elementos analizados. Combinado con la calibración Universal FP que se puede usar para todos los tipos de muestra mineral tendrá uno de los analizadores de mano de más alcance disponible hoy en el mercado. Para terminar nuestro paquete, ofrecemos servicio de atención al cliente de calidad mundial en locaciones claves alrededor del globo. En exploración geológica y vetas de minerales el S1 TITAN puede analizar la geoquímica de suelos, sedimentos y extractos de perforación en el campo para dirigir y acelerar la explotación del mineral. En mapeados de la mina y grados de concentración/ley del mineral se puede utilizar para dirigir operaciones de perforación y para dirigir la excavación midiendo la ley del mineral en múltiples muestras in situ en tiempo real. Evalúa el grado de concentración del mineral in situ sin retraso y sin costo de análisis del laboratorio. Los resultados de análisis están disponibles inmediatamente y necesidad del gasto en análisis y desperdicio de tiempo en el laboratorio, lo que se puede acortar por un factor de diez. En análisis de alimentación, de concentrados y relaves S1 TITAN se puede utilizar para analizarlas y supervisar el proceso de enriquecimiento del mineral o como herramienta de respaldo para los analizadores en línea de los procesos primarios.
Instrumentación y Equipos SAC
Espectrómetro portátil S2 PICOFOX Análisis de trazas de elementos con TXRF El S2 PICOFOX utiliza principios de análisis de la fluorescencia de rayos X (XRF) para ensayos en muestras líquidas, en polvos y sólidas. El espectrómetro detecta elementos a nivel de trazas en líquidos hasta 0.1 ppb. Y en contraste con la mayoría de los métodos analíticos, cantidades de muestra del orden de ng a µg son suficientes para los resultados cuantitativos. El diseño compacto del S2 PICOFOX permite incluso el uso móvil para las medidas in situ o en el campo. Los primeros resultados están disponibles dentro de minutos. El S2 PICOFOX trabaja sin consumibles costosos, gases o nitrógeno líquido. Usted puede ahorrar su presupuesto y dejarlo solo para lo esencial – todo lo que necesita el S2 PICOFOX es una fuente de energía.
Sistema portátil E-BAM de monitoreo continuo
Ajustes a normas EPA Calibración de equipos Instalación llave en mano
Análisis de metales pesados en muestras de aguas residuales.
Las normas internacionales regulan estrictamente la descarga de las aguas residuales. La prueba de metales pesados en aguas residuales por métodos convencionales, tales como ICP, requiere la digestión completa de la muestra usando los productos químicos peligrosos. Este consumo del tiempo y de paso destructivo en la preparación de la muestra se puede omitir con el S2 PICOFOX. Las aguas residuales no tratadas se pueden diluir con una solución de detergente (1: 10) y ser medidas inmediatamente después de la adición de un estándar interno. Los elementos claves (e.g. cromo, arsénico, plomo) son generalmente detectables muy por debajo de los valores umbral
Capacitación
Soluciones en Espectrometría y Difracción por Rayos X
Diseño de redes de monitoreo usuales. La preparación simple de la muestra lleva a resultados rápidos y permite el control inmediato y continuo en el monitoreo de las aguas residuales. Otros usos: Investigación de metalo proteínas. Pruebas de la autenticidad de muestras farmacéuticas. Medida del mercurio en vidrio. Elementos trazas en agua de ríos, lagos y de mar. Análisis toxicológico de la sangre y de la orina. Supervisión de medicación del cáncer en sangre. Análisis del control de calidad y del origen del vino. Composición elemen tal de nano partículas. Pruebas rápidas de control en sustratos.
Servicio técnico permanente y altamente calificado
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Centro Empresarial El Nuevo Trigal Torre B, Of. 506 Calle Los Antares 320 Santiago de Surco, Lima 33 - Perú Teléfono: +(51-1) 271-1703
Análisis por Difracción de Rayos X
Análisis Elemental por Fluorescencia de Rayos X
Analizador automatizado de medición simultanea D4 ENDEAVOR
Espectrómetro por Dispersión de Energía S2 RANGER - EDXRF
Difractómetro D4 ENDEAVOR con Detector Lynxeye Aplicaciones en la industria minera, cementera, farmaceútica, de polimeros, metalúrgica, etc.
El D4 ENDEAVOR domina todas las tareas para la determinación de análisis de fase cualitativo o cuantitativo, análisis de perfil de picos, de tensión residual o definición de estructura cristalina. Su goniómetro con dos coronas de alta precisión, óptica moderna y los detectores de rayos X dan excelentes resultados analíticos con rapidez y capacidad para manejar gran variedad de muestras. Estas se pueden cargar con diversas dimensiones, consistencia y definir un amplio rango de trabajos de medición todos al mismo tiempo con el modulo DIFFRACplus, donde rutinas de análisis llevan a cabo todo esto. Control remoto visual monitorizado con cámara de vídeo incorporada. Su tecnología y software le permiten medidas, análisis y cambio de muestras completamente automatizados y realizarlas vía Intranet o Internet. Inicia y supervisa mediciones desde cualquier computadora en red para el trabajo diario y prepara informes de análisis desde su oficina
mientras que otras medidas todavía están corriendo. Polvos compactados, finas películas, muestras muy pequeñas, líquidos o aún pequeños objetos, todos pueden ser insertados y analizados al mismo tiempo en cualquiera de las 120 posiciones del compartimiento para muestras. Según la muestra se determina la opción óptima de componentes para conectar la óptica ejecutando cambios simples sin ninguna realineación. Transferencias extremadamente rápidas de muestras a la posición de medición reducen al mínimo tiempo de procesamiento con alto rendimiento y se puede manejar un amplio rango de varios tamaños de muestra . Determinación completa de la tensión residual en materiales y objetos. La XRD es definitivamente la técnica no destructiva y establecida; mide el cambio angular de la reflexión con un ángulo lo más grande posible de difracción para una determinación exacta así como la reflexión completa del fondo debido a las pequeñas intensidades típicas de reflexión en la difracción de grandes ángulos.Determinación y definición de estructura cristalina. El D4 ENDEAVOR usa el software TOPAS para una solución eficiente en muestras mineralógicas o muestras químicas y farmacéuticas que proporcionan con frecuencia difractogramas muy complejos o solamente señales débiles de dispersión. Este combina los componentes ópticos y los detectores de rayos X óptimamente para adaptarse a los requisitos analíticos. No sólo para definir una estructura cristalina de 3 dimensiones a partir de un difractograma de 2 dimensiones de la muestra sino también determinar la estructura ab-initio. Además, con un análisis más detallado de los perfiles reflexión individuales revela la importante información adicional de la microestructura y tamaño del cristal. En una composición compleja de diversas fases y estados, contenido amorfo y los diversos componentes de cada fase pueden ser determinados por separado o una definición de los parámetros de enrejado puede ser realizado. TOPAS calcula difractogramas para diversas composiciones de fase en cuestión de segundos hasta que se empareje con la medición realizada. La exactitud y confiabilidad de este
El S2 RANGER es un espectrómetro EDXRF (Energy dispersive X-ray fluorescence) que ofrece una perfecta solución para los análisis multielementales desde Sodio a Uranio en concentraciones desde el rango de ppm hasta un 100%. El detector XFLASH del nuevo S2 RANGER garantiza la sensibilidad necesaria para cumplir con las exigencias analíticas de las normas ISO/DIN y ASTM. Bruker con más de diez años de experiencia con SDDs introdujo el principio de una nueva era: detección de rayos X a casi temperatura ambiente. Debido al especial diseño del chip con amplificador de carga integrado, el XFlash puede procesar tasas de impulsos muy elevadas y, al mismo tiempo, ofrece una muy buena resolución energética, que no ha sido alcanzada por ningún otro detector de rayos X por dispersión de energía. Otras ventajas en comparación con detectores tradicionales con refrigeración termoeléctrica o de nitrógeno líquido generadores de vibraciones son: bajos gastos de operación y sin mantenimiento, pequeñas dimensiones y peso reducido. Desde su introducción en 1997, han sido comercializados más de 3.000 detectores XFlash, que se usan para una gran variedad de aplicaciones espectroscópicas siendo ideal para el proceso y el control de calidad, e.g. cemento, minerales, explotación minera, metales, escorias, aceites y lubricantes, productos farmacéuticos, polímeros y RoHS (Restricción de Sustancias Peligrosas).
Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por Dispersión de Longitud de Onda - WDXRF
Analizador por Difracción de Rayos X - XRD
Familia de Detectores XFLASH SDD
Espectrómetro por Dispersión de Longitud de Onda S8 TIGER - WDXRF
Analizador de Sobremesa C ompacto Todo en Uno D2 PHASER - XRD El D2 PHASER es un Difractómetro compacto todo en uno, diseño de sobremesa, goniómetro de diseño última tecnología innovador, PC y monitor integrados con el software DIFFRAC.SUITE más un detector de tecnología líder. Sensacional ahorro de espacio alcanzado por el desarrollo un goniómetro ultra compacto con todos los otros componentes para una operación autónoma. Su software único controla el instrumento y analiza los datos, desarrollado como herramienta de alto rendimiento para la caracterización de fases cristalinas en investigación y la industria. El detector LYNXEYE captura un gran rango angular y reduce el tiempo de medida: de horas a minutos. Desempeño mejorado en términos de intensidad por un factor de más de 150 con supresión de fluorescencia de muestra que proporciona una excelente relación pico-a-fondo incluso para muestras fuertemente fluorescentes, eliminando la necesidad secundaria de monocromadores. Tiene un funcionamiento analítico y funciones de un instrumento grande, pero es fácil transportar con única y comprensiva caracterización, no destructiva de muestras cristalinas por difracción de rayos X (XRD). Esto significa análisis de fases cualitativo y cuantitativo, investigación del polimorfismo, resolución cristalina e investigación estructural en forma rápida, eficiente con alta calidad. Posee gran flexibilidad en manipulación de muestras variadas que requieren diferentes tipos de porta-muestras ya sean los estándar hechos de PMMA o acero y porta-muestras para pequeñas cantidades de muestra, de baja absorción y débil difracción, filtros para las muestras ambientalmente sensibles y materiales cuyo examen tienden a demostrar una orientación determinada.
Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X por dispersión de energía
El desarrollo de este instrumento se basó en el análisis de las necesidades y requisitos analíticos de los usuarios. En análisis elemental la tarea analítica es clara: Averiguar qué elementos están en la muestra y cuáles son sus respectivas concentraciones, cumpliendo estos requisitos con exactitud, sensibilidad y confiabilidad. Soluciones para los problemas prácticos: Reducir el tiempo desde la preparación de muestras hasta la obtención del resultado. ¿Qué tipos de muestras se puede analizar y cuál es el método más fácil que puedo usar? Aumentar el rendimiento de procesamiento de muestras y disminuir gastos de operación. La solución: fluorescencia de rayos X (XRF) que le permite alcanzar su
meta más rápida, confiable y económicamente que cualquier otro método. La ventaja primaria del XRF es que, es independiente de los enlaces químicos presentes de los elementos en la muestra. Métodos tales como el ICP y el AAS, requieren técnicas que consumen más tiempo, costosas y peligrosas para la preparación de muestras. El XRF, sin embargo, puede analizar directamente cada elemento sin la destrucción de la muestra. La muestra es excitada por un tubo de rayos X primarios, lo que causa que emita fluorescencia. Los rayos X primarios expulsan electrones de las capas atómicas internas (k y L). El “vacio resultante” es llenado por un electrón de una capa atómica externa. Esta transición de electrones ocurre solamente entre las capas internas del átomo, que no están implicadas en el enlace químico permitiendo que las muestras se puedan analizar directamente sin una preparación elaborada. Esto hace del XRF el mejor método para el análisis elemental. El XRF analiza elementos durante la transición de electrones; un electrón cae de una capa atómica de nivel más alto energía a una capa más baja para llenar el vacío. Esta diferencia de energía se emite como fluorescencia de rayos X que tiene una longitud de onda característica para cada elemento lo que se usa para el análisis. Técnicas diferentes. El análisis de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF) capta simultáneamente toda la energía de rayos X emitida por la muestra y las energías características de cada elemento se separan usando un solo detector de rayos X en una posición fija. Por dispersión de longitud de onda (WDXRF) en cambio, se separan las longitudes de onda características con un alto grado de definición. Seguidamente, finos cristales y detectores en el analizador se usan para separar y contar los rayos X emitidos.
